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            X射線(xiàn)吸收精細結構譜儀 (XAFS)
            全部分類(lèi)
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            X射線(xiàn)吸收精細結構譜儀 (XAFS)

            X射線(xiàn)吸收精細結構譜儀 (X-ray absorption fine structure,XAFS),是一種研究材料局域原子或電子結構的有力工具,廣泛應用于催化、能源、納米等熱門(mén)領(lǐng)域。
            零售價(jià)
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            產(chǎn)品描述
            參數

             

            技術(shù)參數:

             

             

             

             

            核心優(yōu)勢:

             

            • 最高光通量產(chǎn)品

              光子通量高于1000000光子/秒/eV,采譜效率數倍于其他產(chǎn)品;獲得和同步輻射一樣的數據質(zhì)量

            • 優(yōu)異的穩定性

              光源單色光強度穩定性?xún)?yōu)于0.1%,重復采集能量漂移 < 50 meV

            • 1%探測極限

              高光通量、優(yōu)異的光路優(yōu)化和極好的光源穩定性確保所測元素含量>1%時(shí)依舊獲得高質(zhì)量EXAFS數據

             

             

             

            儀器原理:

            X射線(xiàn)吸收精細結構譜儀 (X-ray absorption fine structure,XAFS),是一種研究材料局域原子或電子結構的有力工具,廣泛應用于催化、能源、納米等熱門(mén)領(lǐng)域。

             

            實(shí)驗室單色儀XES測試幾何結構

            實(shí)驗室單色儀XAFS測試幾何結構

             

            mn.jpgMn數據,Mn K-edge XAFS數據,數據與同步輻射光源一致

             

            清晰.jpg
            Fe樣品Kβ發(fā)射譜數據:core to core XES 和 valence to core XES

             

             

             

             

            測試數據:

            Foil EXAFS數據

            微信圖片_20230619114508.jpg

             

            可測元素:綠色部分可測K邊,黃色部分可測L邊

             

             

             

             

            應用領(lǐng)域:

            工業(yè)催化、儲能材料、納米材料、環(huán)境毒理、也質(zhì)分析、重元素分析等

             

             

             

             

             

             

            關(guān)鍵詞:
            X射線(xiàn)吸收精細結構譜儀
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