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X射線(xiàn)吸收精細結構譜儀 (XAFS)
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產(chǎn)品描述
參數
技術(shù)參數：
核心優(yōu)勢:
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最高光通量產(chǎn)品
光子通量高于1000000光子/秒/eV，采譜效率數倍于其他產(chǎn)品；獲得和同步輻射一樣的數據質(zhì)量
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優(yōu)異的穩定性
光源單色光強度穩定性?xún)?yōu)于0.1%，重復采集能量漂移 < 50 meV
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1%探測極限
高光通量、優(yōu)異的光路優(yōu)化和極好的光源穩定性確保所測元素含量>1%時(shí)依舊獲得高質(zhì)量EXAFS數據
儀器原理：
X射線(xiàn)吸收精細結構譜儀 (X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一種研究材料局域原子或電子結構的有力工具，廣泛應用于催化、能源、納米等熱門(mén)領(lǐng)域。
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Mn數據，Mn K-edge XAFS數據，數據與同步輻射光源一致
Fe樣品Kβ發(fā)射譜數據：core to core XES 和 valence to core XES
測試數據：
Foil EXAFS數據
可測元素：綠色部分可測K邊，黃色部分可測L邊
應用領(lǐng)域：
工業(yè)催化、儲能材料、納米材料、環(huán)境毒理、也質(zhì)分析、重元素分析等
關(guān)鍵詞:
X射線(xiàn)吸收精細結構譜儀
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